關于我們 About us

      澤攸科技是一家具有完全自主知識產權的科學儀器公司，專注于研發、生產和銷售原位電鏡解決方案、掃描電鏡整機、臺階儀、探針臺等儀器，立志成為具有國際先進水平的材料表征測量儀器及半導體加工科學儀器制造商。

      公司有精通機械、光學、超高真空、電子技術、微納加工技術、軟件技術的團隊，我們為納米科學的研究提供不凡的設備。公司團隊于20世紀90年代投入電鏡及相關附件研發中，現有兩個系列核心產品：

    （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統； 

     （2）ZEM15臺式掃描電子顯微鏡。 　

        PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統自問世以來，獲得了國內外研究者的高度關注，并且已外銷至澳洲、美國、歐洲等地。我們協助用戶做出大量研究成果，相關成果發表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 （部分近期研究成果列表：） 　　　
        目前在國內使用我公司產品的課題組/實驗平臺多達八十余個，遍布五十余所大學/研究機構，包括中科院過程所、北京大學、清華大學、浙江大學、中科院硅酸鹽研究所、廈門大學、電子科大、蘇州大學、西安交通大學、武漢理工大學、上海大學、中科院大連化物所等等。國外用戶包括澳洲昆士蘭科技大學、英國利物浦大學、美國休斯頓大學、美國萊斯大學等。

產品研發歷程：

2014年 　　　
（1）推出PicoFemto系列產品——透射電鏡單傾原位TEM-STM電學測量系統，在保證電鏡原有分辨率的前提下實現亞納米級別的機械操縱和高精度的物性測量。 　　　　
（2）推出透射電鏡雙傾原位TEM-STM電學測量系統。　　 　　　　
2015年 　　　　
（1）推出透射電鏡單傾原位TEM-STM-AFM力電一體測量系統，在保證電鏡原有分辨率的前提下，實現定量力學-電學一體測量。 　　　　
2016年 　　　　
（1）推出透射電鏡原位TEM-STM光電一體測量系統，在保證電鏡原有分辨率前提下，實現原位光電一體聯用測試。 　　　　
（2）推出基于MEMS芯片技術的透射電鏡原位液體/電化學測量系統，實現透射電鏡中的原位液體/電化學研究。 　　　　
（3）推出透射電鏡原位TEM-STM低溫電學測量系統，將低溫模塊集成到TEM-STM電學測量系統上。 　　　　
2017年 　　　　
（1）推出基于MEMS芯片的單傾加熱/電學測量系統，實現透射電鏡中的高分辨原位加熱及電學測量。 　　　　
（2）推出原位SEM液體/電化學測量系統，實現在SEM中的原位液體/電化學研究。　 　　　　
2018年 　　　　
（1）推出基于MEMS芯片的原位TEM氣氛環境加熱測量系統，實現在TEM中進行原位氣氛環境下的加熱實驗。 　　　　
（2）推出基于MEMS芯片的雙傾加熱/電學測量系統，實現MEMS芯片的雙傾加熱和電學測量。 　　　　
（3）推出單傾/雙傾多頭樣品桿，可一次內置3個樣品進入電鏡，每個樣品都可以保證電鏡原有分辨率，大大提高了電鏡測試效率。 　　　　
（4）推出原位SEM氣氛環境加熱測量系統，實現了SEM中的原位氣氛環境加熱研究。 　　　　
（5）推出單傾/雙傾360度旋轉測量樣品桿，使透射電鏡樣品可以在雙傾傾轉的同時進行360度旋轉。 　　　　
（6）推出T-station帶等離子體清洗的真空預抽系統，用于樣品桿貯存和清洗，也可用于改善mems芯片的親水性。 　　 　
（7）推出MEMS-STM-TEM多場測量樣品桿，實現在透射電鏡內同時對樣品施加四種外場。 　　　　
2019年 　　　　
（1）推出原位SEM熱拉伸臺，在SEM中實現定量力學拉伸和高溫觀測。 　　　　
（2）推出原位TEM高溫力學測量系統，實現定量的原位力-熱耦合。 　　　　
（3）推出完全自主研發的臺式鎢燈絲掃描電子顯微鏡ZEM15，該產品通過市場定位，結合創新的電子光學設計、電路模塊設計和軟件功能設計，打造易用且高性價比的臺式掃描電子顯微鏡。 　　　　
（4）推出雙傾/單傾真空傳輸樣品桿，解決空氣敏感樣品無法完好內置入電鏡的難題。 　　　　
（5）推出原位TEM拉伸樣品桿。 　　　　
除上述產品外，公司還協助客戶定制開發了多種原位測量系統，滿足不同實驗場景下的原位觀測。 　　　
未來，我公司還將進一步增加研發力度，推出更多高性能、實用的電子顯微鏡及附件產品，為納米科學研究提供不凡的設備。