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掃描電鏡的成像機制是什么?

日期:2023-08-29

掃描電子顯微鏡是一種強大的顯微鏡,可以通過電子束而不是光束來成像樣品表面的微觀結構。其成像機制涉及以下幾個關鍵步驟:

電子源產生電子束: SEM使用一個電子槍來產生高能電子束。在電子槍中,熱絲被加熱,產生電子,然后由電場聚焦形成一個細束。

聚焦電子束: 產生的電子束被聚焦成一個細小的束,類似于光學顯微鏡中的焦點。

樣品表面的激發和信號發射: 當電子束照射到樣品表面時,樣品表面的原子會被電子擊中,導致電子從樣品中被排出。這些擊出的電子分為兩種類型:

次級電子(SE): 這些電子是從樣品表面的外層排出的。它們提供了關于樣品表面拓撲和形狀的信息。

反射電子(BSE): 這些電子是從樣品內部擊出的,并受到不同能量的束撞離。它們提供了有關樣品的組成和密度的信息。

信號收集和檢測: 次級電子和反射電子被收集并發送到探測器中進行檢測。次級電子探測器和反射電子探測器是兩種常用的探測器類型。

掃描樣品表面: SEM通過在樣品表面上進行掃描,移動電子束,以獲取樣品不同區域的信息。這個過程產生了一個逐點的圖像,可以形成樣品的表面圖像。

成像和顯示: 收集到的信號被轉換為圖像,可以在顯示屏上觀察。圖像的亮度或顏色通常用來表示樣品表面的特征和性質。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡的成像機制。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢15756003283(微信同號)。

掃描電鏡產品聯系方式


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作者:澤攸科技


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